我公司在標準型原子力顯微鏡FM-Nanoview 6600AFM的基礎上升原子力顯微鏡FM-Nanoview 6800AFM，針對標記區域掃描提供準確的定位系統，增加磁力模塊，掃描范圍*廣，定位*。

一、主要功能特點

     硬件系統

1、光機電一體化設計，外形結構簡單；

2、掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；

3、精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節簡單，操作方便；

4、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；

5、伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域定位；

6、高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；

7、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇；

8、帶光學定位的CCD觀測系統，實時觀測與定位探針掃描樣品區域；

9、采用伺服馬達控制CCD自動對焦功能；

10、模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；

11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用。

12、帶溫度顯示。

13、*簧懸掛式防震方式，簡單實用，抗干擾能力強

    軟件系統

1、可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像；

2、具備接觸、輕敲,可選配相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式；

3、可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512；

4、多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；

5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；

6、可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域；

7、可任意選擇樣品起始掃描角度；

8、激光光斑檢測系統的實時調整功能；

9、針尖共振峰自動和手動搜索功能；

10、可任意定義掃描圖像的色板功能；

11、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能；

12、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；

13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。

二、主要技術指標

1、工作模式：接觸、輕敲、可擴展相位、摩擦力、磁力或靜電力

2、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

3、大掃描范圍：橫向50um，縱向5um

4、掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm

5、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz

6、掃描角度：任意

7、樣品移動范圍：0～50mm

8、馬達趨近脈沖寬度：10±2ms

9、光學放大倍數：10X

10、光學分辨率：1um

11、圖像采樣點：256×256，512×512

12、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A

13、數據采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣

14、反饋方式：DSP數字反饋

15、反饋采樣速率：64.0KHz

16、計算機接口：USB2.0

17、運行環境：運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統

 南北儀器原子力顯微鏡應用范圍：